標(biāo)題: 中天微內(nèi)核的芯片觸摸及異常處理 [打印本頁(yè)]
作者: up_up    時(shí)間: 2020-11-2 11:53
標(biāo)題: 中天微內(nèi)核的芯片觸摸及異常處理
這是關(guān)于中天微內(nèi)核的APT觸摸硬件布局建議和仿真異常處理手冊(cè)，能顧幫助我們解決出現(xiàn)的問(wèn)題。


APT觸摸Layout建議.pdf

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APT觸摸建議

仿真口使用異常(1).pdf

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反震使用異常處理



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