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根據(jù)半導(dǎo)體集成電路運算放大器測試方法的基本原理 求幫助
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作者:
遇為你
時間:
2020-12-14 09:08
標題:
根據(jù)半導(dǎo)體集成電路運算放大器測試方法的基本原理 求幫助
根據(jù)GB3442-1986半導(dǎo)體集成電路運算(電壓)放大器測試方法的基本原理，設(shè)計一個用于測量運算放大器失調(diào)的簡易測試儀，測試儀包含模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊、失調(diào)電壓測試電路、數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊、單片機核心模塊、鍵盤與顯示模塊等，失調(diào)電壓測試范圍0.1mV-10mV，測量誤差不大于30%，測試結(jié)果顯示在OLED/LCD上。
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