標題: 32單片機軟件ROM自檢程序怎么寫? [打印本頁]
作者: zouzhuangzhi    時間: 2023-2-13 15:42
標題: 32單片機軟件ROM自檢程序怎么寫?
現(xiàn)在在做一款32位單片機軟件自檢程序，在做ROM的CRC校驗自檢時遇到問題，認證公司要求先把程序的CRC校驗值寫到FLASH固定地址里面（該地址不做CRC校驗），進入自檢的時候程序進行CRC計算，然后與放在FLASH固定地址的CRC比較來檢驗ROM區(qū)域的程序是否有異常變化，自己寫了程序應(yīng)該是有BUG，有大佬提供一下例程不？

// 引用外部函數(shù)extern uint32_t iec60730_ram_march_bist_test(uint32_t addr);extern void iec60730_reg_r1_r4_bist_test(void);extern void iec60730_reg_r0_bist_test(void);extern void iec60730_reg_r8_r12_bist_test(void);extern void iec60730_reg_sp_bist_test(void);extern void iec60730_reg_spec_bist_test(void);extern void iec60730_reg_lr_bist_test(void);extern void iec60730_pc_test(void);extern CPUStatus STL_RunTimeCPUTest(void);void PC_Test_Func1(void)__attribute__((section(".ARM.__at_0x00003ff0"))); //地址以4為單位遞增，不然編譯不通過，函數(shù)聲明需要放在文件最上面聲明void PC_Test_Func2(void)__attribute__((section(".ARM.__at_0x0000400c"))); const  uint32_t  CRC_Result __attribute__((at(0x00007F8C))) = 0x00006EFF;uint32_t RamTestResult = 0;uint32_t CpuTestResult = 0;uint32_t crcResult = 0;/*flash self test*/static uint32_t _FLASH_CRC;// 棧底數(shù)據(jù)__IO uint32_t StackOverFlowPtrn[4]   __attribute__((section("STACK_BOTTOM"), zero_init));// 每次校驗的數(shù)據(jù)量#define ROM_BIST_SIZE           8 /*  8 bytes every time */#define ROM_START (0x0)#define FLASH_ROM_START_ADDR (0x0)#define FLASH_ROM_SIZE       (20480)//(32*1024)//#define FLASH_ROM_SIZE       (32*1024)#define ROM_END   ((uint32_t)(FLASH_ROM_SIZE - 1))#define ROM_SIZE  ((uint32_t)ROM_END - (uint32_t)ROM_START + 1)static volatile uint32_t hw_crc,sw_crc;// bref: 測試flash// para:// note:static void ROM_Test(void){        stl_uint8_t* p_flash_start_addr = (stl_uint8_t*)FLASH_ROM_START_ADDR;        iec_test_result.rom_test_result = IEC_TEST_SUCCESS;                CRC_Init();        /*open crc apb clock*/        SYS_EnablePeripheralClk(SYS_CLK_CRC_MSK);        /* use hardware CRC16 to calculate expected crc first,                  then verify if the CRC code calculated by software is same with expected crc */           hw_crc = IEC60730_HardwareCRC16Gen(p_flash_start_addr, ROM_SIZE);        if(IEC60730_TEST_NORMAL != IEC60730_SoftwareCRC16Test(p_flash_start_addr, ROM_SIZE, hw_crc)){                iec_test_result.rom_test_result = IEC_TEST_FAIL;        }        // 使用過硬件CRC 完成一個完整的校驗 選喲重新初始化        CRC_Init();        /* use software CRC16 to calculate expected crc first,                  then verify if the CRC code calculated by hardware is same with expected crc */        sw_crc = IEC60730_SoftwareCRC16Gen(p_flash_start_addr, ROM_SIZE);        if(IEC60730_TEST_NORMAL != IEC60730_HardwareCRC16Test(p_flash_start_addr,ROM_SIZE, sw_crc)){                iec_test_result.rom_test_result = IEC_TEST_FAIL;        }                // 記錄整個flash 區(qū)域的校驗值        _FLASH_CRC = hw_crc;        crcResult = CRC_Result;        if(crcResult == sw_crc)//_FLASH_CRC CRC_Result        {                iec_test_result.rom_test_result = IEC_TEST_SUCCESS;        }        else        {                iec_test_result.rom_test_result = IEC_TEST_FAIL;        }        }
作者: hi等你    時間: 2023-2-15 16:14
程序rom還能自檢？本人才疏學(xué)淺，一般單片機程序稍大一些1k起步，再大幾十k夠大了，如何自檢每個字節(jié)

甚至每個位能無差錯？用什么原理，拭目以待等候高手出現(xiàn)
作者: ningsy    時間: 2023-2-15 16:53
STP ISP 在讀入hex文件那一刻，已經(jīng)對整個hex進行校驗計算了。

作者: 羅程峰8200    時間: 2023-2-15 22:19
理論上只要程序正常運行，程序就是對的，如果還要較驗的話有什么意義？會不會被人故意刁難？

作者: ningsy    時間: 2023-2-15 23:15
我自己寫的eeprom連續(xù)讀寫代碼，每次存入12個字節(jié)。第一位是序號，第2~11位是數(shù)據(jù)，第12位是校驗位。讀的時候校驗一次，有問題就讀默認數(shù)據(jù)。目的是為了防止eeprom寫入錯誤，比如存儲單元損壞，或?qū)懭霑r意外斷電等。雖然幾率很小，但有預(yù)案總比沒有強。
作者: ningsy    時間: 2023-2-16 19:27
按照我的理解，所謂校驗就是按地址順序讀出這段數(shù)據(jù)，然后計算（比如累加求和），再與已存在的校驗位比較，一致就是哪都沒錯往下走；不一致就報錯或者B計劃。應(yīng)該幾句代碼就搞定了，為何被你寫的如此復(fù)雜？
作者: 新昌小徐    時間: 2023-2-19 00:11
CRC較驗啊，浙大中控，在工程師站編好程序后，編譯下載到控制站，下載好后，再回讀，進行CRC較驗，得到CRC較驗值與編譯好后下載前計算出來的CRC較驗值進行比較，如果相等，下載到控制站的程序無誤。
同時，這次回讀生成的CRC較驗值將保存起來，下次編譯后要下載的時候，將當前的程序的CRC較驗值與上次保存的CRC值比較，如果相等，提示程序沒有變化，無須下載，如果不相等，提示下載后會改變原來的程序，是否繼續(xù)。
CRC較驗就是用商定好的一個數(shù)據(jù)作為除數(shù)，待較驗的數(shù)據(jù)作為被除數(shù)，進行除法運算，除法運算的時候沒有進位和借位



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