標(biāo)題:
stm32單片機(jī)過采樣增加精度的問題
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作者:
nmgbtzyf
時(shí)間:
2024-8-17 11:26
標(biāo)題:
stm32單片機(jī)過采樣增加精度的問題
想做一個(gè)數(shù)字萬用表32 的精度0.8mv,后來改用1.8vref 不過是0.4,沒有提高小數(shù)點(diǎn)位,無任何意義 后來研究了一下過采樣,了,可以提高到14位,這樣就能達(dá)到0.01 可以提高一個(gè)小數(shù)點(diǎn)位,問,這樣的方案是否可行?
作者:
donglw
時(shí)間:
2024-8-17 17:12
本帖最后由 donglw 于 2024-8-20 21:55 編輯
增加精度,取決兩個(gè)因素,一是基準(zhǔn)電壓的精度,二是ADC的位數(shù)。
作者:
ppcbug
時(shí)間:
2024-8-17 18:23
stm32 雖然 理論采樣 12位, 但是 實(shí)際上 有效精度也就 10位。 所以 直接測量 遠(yuǎn)達(dá)不到 0.8mv 精度。
要達(dá)到 0.8mv 需要 硬件預(yù)放。
作者:
guobaox1981
時(shí)間:
2024-8-18 09:57
提高基準(zhǔn)電壓精度,多次采樣 、3-9次采樣取中位值濾波,再取16次中值累加 形成偽16位ADC。精度會(huì)有效提高。
作者:
ZSJM
時(shí)間:
2024-8-18 10:15
過采樣可以增加STM32 ADC的有效位數(shù) 如12位增加到14位, 但沒有提高精度, 不會(huì)提高INL, 也就是線性精度還是10bit.
其實(shí)普通使用10bit也夠用了(約0.1%), 想提高性能,應(yīng)該是把你的測量值,經(jīng)過放大或衰減到總量程的40~80%范圍內(nèi).
作者:
coody_sz
時(shí)間:
2024-8-20 15:50
STM32的12位ADC有12位精度?能到10位就不錯(cuò)了。
過采樣有效的前提是:逼近式ADC線性好、比較器增益高、輸入信號(hào)帶有幅度為1LSB左右三角波噪聲或白噪聲。這些條件不滿足,過采樣都是白搭,就STM32的ADC性能,沒啥意義。Sigma Delta ADC用一個(gè)高性能比較器就可能得到24位的分辨率,高達(dá)20位或以上的精度。
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