標(biāo)題: 電路板測試、檢驗及規(guī)范 [打印本頁]

作者: qq8426030    時間: 2014-4-22 08:59
標(biāo)題: 電路板測試、檢驗及規(guī)范

1、Acceptability,acceptance 允收性,允收
  前者是指在對半成品或成品進(jìn)行檢驗時,所應(yīng)遵守的各種作業(yè)條件及成文準(zhǔn)則。后者是指執(zhí)行允收檢驗的過程,如 Acceptance Test。
  2、Acceptable Quality Level(AQL) 允收品質(zhì)水準(zhǔn)
  系指被驗批在抽檢時,認(rèn)為能滿足工程要求之"不良率上限",或指百分缺點數(shù)之上限。AQL并非為保護(hù)某特別批而設(shè),而是針對連續(xù)批品質(zhì)所定的保證。
  3、Air Inclusion 氣泡夾雜
  在板材進(jìn)行液態(tài)物料涂布工程時,常會有氣泡殘存在涂料中,如膠片樹脂中的氣泡,或綠漆印膜中的氣泡等,這種夾雜的氣泡對板子電性或物性都很不好。
  4、AOI 自動光學(xué)檢驗
  Automatic Optical Inspection,是利用普通光線或雷射光配合計算機(jī)程序,對電路板面進(jìn)行外觀的視覺檢驗,以代替人工目檢的光學(xué)設(shè)備。
  5、AQL 品質(zhì)允收水準(zhǔn)
  Acceptable Quality Level,在大量產(chǎn)品的品檢項目中,抽取少量進(jìn)行檢驗,再據(jù)以決定整批動向的品管技術(shù)。
  6、ATE 自動電測設(shè)備
  為保證完工的電路板其線路系統(tǒng)的通順,故需在高電壓(如 250 V)多測點的泛用型電測母機(jī)上,采用特定接點的針盤對板子進(jìn)行電測,此種泛用型的測試機(jī)謂之 Automatic Testing Equipment。
  7、Blister 局部性分層或起泡
  在電路制程中常會發(fā)生局部板面或局部板材間之分層,或局部銅箔浮離的情形,均稱為 Blister。另在一般電鍍過程中亦常因底材處理不潔,而發(fā)生鍍層起泡的情形,尤其以鍍銀對象在后烘烤中最容易起泡。
  8、Bow,Bowing 板彎
  當(dāng)板子失去其應(yīng)有的平坦度(Flatness)后,以其凹面朝下放在平坦的臺面上,若無法保持板角四點落在一個平面上時,則稱為板彎或板翹(Warp 或Warpage),若只能三點落在平面上時,稱為板扭(Twist)。不過通常這種扭翹的情況很輕微不太明顯時,一律俗稱為板翹(Warpage)。
  9、Break-Out 破出
  是指所鉆的孔已自配圓(Pad)范疇內(nèi)破出形成斷環(huán)情形;即孔位與待鉆孔的配圓(Pad)二者之間并未對準(zhǔn),使得兩個圓心并未落在一點上。當(dāng)然鉆孔及影像轉(zhuǎn)移二者都有可能是對不準(zhǔn)或破出的原因。但板子上好幾千個孔,不可能每個都能對準(zhǔn),只要未發(fā)生"破出",而所形成的孔環(huán)其最窄處尚未低于規(guī)格(一般是2 mil 以上),則可允收。
  10、Bridging 搭橋、橋接
  指兩條原本應(yīng)相互隔絕的線路之間,所發(fā)生的不當(dāng)短路而言。
  11、Certificate證明文書
  當(dāng)一特定的"人員訓(xùn)練"或"品質(zhì)試驗"執(zhí)行完畢,且符合某一專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)時,特以書面文字記載以茲證明的文件,謂之 Certificate。
  12、Check List 檢查清單
  廣義是指在各種操作前,為了安全考慮所應(yīng)逐一檢查的項目。狹義指的是在PBC 業(yè)中,客戶到現(xiàn)場卻對品質(zhì)進(jìn)行了解,而逐一稽查的各種項目。
  13、Continuity 連通性
  指電路中(Circuits)電流之流通是否順暢的情形。另有 Continuity Testing是指對各線路通電情況所進(jìn)行的測試,即在各線路的兩端各找出兩點,分別以彈性探針與之做緊迫接觸(全板以針床實施之),然后施加指定的電壓 (通常為實用電壓的兩倍 ), 對其進(jìn)行"連通性試驗",也就是俗稱的 Open/Short Testing (斷短路試驗)。
  14、Coupon,Test Coupon 板邊試樣
  電路板欲了解其細(xì)部品質(zhì),尤其是多層板的通孔結(jié)構(gòu),不能只靠外觀檢查及電性測試,還須對其結(jié)構(gòu)做進(jìn)一步的微切片 (Microsectioning)顯微檢查。因此需在板邊一處或多處,設(shè)置額外的"通孔及線路"圖樣,做為監(jiān)視該片板子結(jié)構(gòu)完整性(Structure Integraty)的解剖切片配合試樣 (Conformal Coupon)。品質(zhì)特嚴(yán)者,凡當(dāng)切樣不及格時,該片板子也將不能出貨。注意;這種板邊切片,不但可當(dāng)成出貨的品檢項目,也可做為問題之對策研究,及品質(zhì)改進(jìn)的監(jiān)視工具。 除微切片試樣外, 板邊有時也加設(shè)一種檢查 "特性阻抗" 的特殊Coupon,以檢查每片多層板的"阻抗值"是否仍控制在所規(guī)定的范圍內(nèi)。
  15、Crazing 白斑
  是指基板外觀上的缺點,可能是由于局部的玻纖布與環(huán)氧樹脂之間,或布材本身的紗束之間出現(xiàn)分裂,由外表可看到白色區(qū)域稱為 Crazing。較小而又只在織點上出現(xiàn)者,稱為"白點"(Measling)。另外當(dāng)組裝板外表所涂布的護(hù)形膜(Conformal Coating),其破裂也稱為 Crazing。通常一般日用品瓷器,或瓷磚,在長時間使用老化后,也因與力的釋放,而在表面上出現(xiàn)不規(guī)則的裂紋,亦稱為 Crazing。
  16、Crosshatch Testing十字割痕試驗
  是對板面皮膜附著力的一種破壞性試驗。系按ASTM D3359之膠帶撕起法為藍(lán)本而稍加改變,針對板面各種干濕式皮膜的附著力試驗。采多刃口之割劃刀在皮膜表面垂直縱橫割劃,切成許多小方塊再以膠帶緊壓然后用力撕起。各方塊切口平滑且全未撕脫者以予 5分,切口均有破屑又被撕起的方塊在35~65% 之間者只給1分,更糟者為 0分。連做數(shù)次進(jìn)行對比,其總積分即為皮膜附著力的評分?jǐn)?shù)。
  17、Dendritic Growth 枝狀生長
  指電路板面兩導(dǎo)體之間在濕氣環(huán)境中,又受到長期電壓(偏壓)的影響,而出現(xiàn)金屬離子性之樹枝狀蔓延生長,最后將越過絕緣的板材表面形成搭接,發(fā)生漏電或短路的情形,謂之"枝狀生長"。又當(dāng)其不斷滲入絕緣材料中時,則稱為Dendritic Migration 或 Dentrices。
  18、Deviation 偏差
  指所測得的數(shù)據(jù)并不好,其與正常允收規(guī)格之間的差距,謂之 Deviation。
  19、Eddy Current渦電流
  在PCB業(yè)中,是一種測量各種皮膜厚度的工作原理及方法,可測非磁性金屬底材之非導(dǎo)體皮膜厚度(如銅面的樹脂層或綠漆厚度)當(dāng)在一鐵心的測頭(Probe)上繞以線圈,施加高頻率振蕩的交流電(100KHz~6MHz),而令其產(chǎn)生磁場。當(dāng)此測頭接觸待測厚的表面時,其底金屬層中(如銅)會被感應(yīng)而產(chǎn)生"渦電流",此渦電流的訊號又會測頭所偵測到。凡表面非導(dǎo)體皮膜愈厚者,其阻絕渦電流的效果愈大,使測頭能接受到的訊號也愈弱。反之膜愈薄者,則測頭能接受到的訊號愈強(qiáng)。因而可利用此種原理對非導(dǎo)體皮膜進(jìn)行測厚。一般可測鋁材表面的陽極處理膜厚度,銅箔基板上的基材厚度,及任何類似的組合。一般電路系統(tǒng)中也會產(chǎn)生渦電流,但卻為只能發(fā)熱而浪費(fèi)掉的無效電流。
  20、Dish Down 碟型下陷
  指電路板面銅導(dǎo)體線路上有局部區(qū)域,因受到壓合時不當(dāng)?shù)膱A形壓陷,且經(jīng)蝕刻后又不巧仍留在線路上,稱為"碟陷"。在高速傳輸?shù)木€路中,此種局部下陷處會造成阻抗值的突然變化,對整體功能不利,故應(yīng)盡量設(shè)法避免。
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