標(biāo)題: 高速PCB設(shè)計(jì)指南之二第三篇 印制電路板的可靠性設(shè)計(jì)-去耦電容配置 [打印本頁(yè)]

作者: sppcb    時(shí)間: 2015-4-22 14:31
標(biāo)題: 高速PCB設(shè)計(jì)指南之二第三篇 印制電路板的可靠性設(shè)計(jì)-去耦電容配置
第三篇  
印制電路板的可靠性設(shè)計(jì)-去耦電容配置
在直流電源回路中,負(fù)載的變化會(huì)引起電源噪聲。例如在數(shù)字電路中,當(dāng)電路從一個(gè)狀態(tài)轉(zhuǎn)換為另一種狀態(tài)時(shí),就會(huì)在電源線上產(chǎn)生一個(gè)很大的尖峰電流,形成瞬變的噪聲電壓。配置去耦電容可以抑制因負(fù)載變化而產(chǎn)生的噪聲,是印制電路板的可靠性設(shè)計(jì)的一種常規(guī)做法,配置原則如下:

  電源輸入端跨接一個(gè)10~100uF的電解電容器,如果印制電路板的位置允許,采用100uF以上的電解電容器的抗干擾效果會(huì)更好。
  為每個(gè)集成電路芯片配置一個(gè)0.01uF的陶瓷電容器。如遇到印制電路板空間小而裝不下時(shí),可每4~10個(gè)芯片配置一個(gè)1~10uF鉭電解電容器,這種器件的高頻阻抗特別小,在500kHz~20MHz范圍內(nèi)阻抗小于1Ω,而且漏電流很。0.5uA以下)。
  對(duì)于噪聲能力弱、關(guān)斷時(shí)電流變化大的器件和ROM、RAM等存儲(chǔ)型器件,應(yīng)在芯片的電源線(Vcc)和地線(GND)間直接接入去耦電容。
  去耦電容的引線不能過(guò)長(zhǎng),特別是高頻旁路電容不能帶引線。


作者: Jameszuo    時(shí)間: 2015-4-29 09:26
非常  有用
作者: Jameszuo    時(shí)間: 2015-4-29 09:26
非常感謝
作者: sppcb    時(shí)間: 2015-4-29 15:17
Jameszuo 發(fā)表于 2015-4-29 09:26
非常感謝

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