標(biāo)題: LLC MOSFET 的失效模式 [打印本頁]

作者: 小融1號    時(shí)間: 2017-2-14 13:50
標(biāo)題: LLC MOSFET 的失效模式
由于LLC有眾多優(yōu)良特性,目前應(yīng)用越來越廣,例如adapter,LED TV, telecom power, Lighting,medical power等等,甚至有些沒有PFC的低端充電器都用LLC做,其輸入電壓,輸出電流和輸出電壓都不是恒定電壓,可見工程師對LLC的愛有多深了。

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但是在平常的客戶拜訪中了解到LLC產(chǎn)品在產(chǎn)線或終端客戶經(jīng)常碰到低失效率的問題,所以今天介紹一下LLC的MOSFET在開機(jī)以及過載時(shí)的一個(gè)主要失效模式,這個(gè)話題有文章有講過,但是很多工程師并沒有刻意去了解過,今天再用中文總結(jié)一下。

對于小功率的LLC,多以半橋?yàn)橹,簡單的示意圖如下。


兩種工況,先看剛開機(jī)的情況,剛上電時(shí)諧振電容Cr上的電壓沒有建立起來(穩(wěn)態(tài)工作時(shí),該電容的中點(diǎn)電壓應(yīng)該是1/2的BUS電壓),由于普通的LLC controller的占空比都是固定的50%,所以主變壓器的原邊可能會存在伏秒不平衡的狀態(tài),導(dǎo)致LLC的MOSFET硬開關(guān),典型波形如下,可以看到上管(HVG)打第二個(gè)PWM時(shí)對應(yīng)的諧振腔的電流相位是不對的。


再來看過載/短路時(shí),LLC工作在容性模式的情況,先看一張DC gain對應(yīng)的容性和感性區(qū)域的圖,當(dāng)開光頻率低于第二諧振頻率fr2時(shí)就是容性區(qū)域。


下圖是一張工作在容性模式的圖,可以看到下管(LVG)的最后一個(gè)PWM開通時(shí)對應(yīng)的諧振腔電流相位也是不對的。


分析了上面兩種工況,都是電流相位不對,MOSFET都存硬開關(guān),所謂硬開關(guān)就是,當(dāng)MOSFET開通時(shí),電流沒有反向流過體二極管,也就是說Vds的電壓不為零,那為什么硬開關(guān)就會導(dǎo)致MOSFET失效呢?下面詳細(xì)介紹。

首先看一個(gè)普通高壓MOSFET datasheet里面對dv/dt的AMR規(guī)格如,所謂AMR就是absolute maximum rating,就是說超過這個(gè)參數(shù)范圍,MOSFET就有可能損壞。


我們發(fā)現(xiàn)有兩個(gè)限制,其對應(yīng)不同的條件,就是體二極管是否有反向恢復(fù),對于沒有反向恢復(fù)的這一項(xiàng)50V/ns,只是對之前的老MOSFET有限制,對于現(xiàn)代工藝的MOSFET,算是一個(gè)冗余的規(guī)定,由于習(xí)慣問題一直保留著,其實(shí)就算100V/ns的dv/dt加在管子上都不一定有問題。但是對于體二極管存在反向恢復(fù)的dv/dt就比較危險(xiǎn)了,這個(gè)管子的規(guī)定是15V/ns,其實(shí)在高溫下,情況會更糟糕。

下面先看一下MOSFET帶寄生參數(shù)的等效模型,由于側(cè)重點(diǎn)的原因,寄生電感和寄生電阻就沒畫出來。


從上圖可以看到,MOSFET存在一個(gè)寄生的BJT,也就是說當(dāng)Rb上的電壓達(dá)到這個(gè)BJT的門檻電壓時(shí),這個(gè)BJT就會導(dǎo)通,關(guān)鍵在于這個(gè)BJT是負(fù)溫度系數(shù)的,它不像MOSFET的Rds_on,溫度越高阻抗越高,而是相反,晶元上溫度越高的地方,阻抗越低,更多的電流會流過同一個(gè)點(diǎn),因此特別容易造成熱點(diǎn)損壞,并且起始結(jié)溫越高時(shí)情況越惡劣。

回過頭來,我們再看Rb上的電壓是從哪里來的,主要有兩個(gè)方面,一個(gè)是體二極管的反向恢復(fù)電流,另外一個(gè)是流過Cdb的容性電流。

再回過頭來看上面介紹的LLC的兩個(gè)電流相位不對的情況,上面提到這兩種情況會存在硬開關(guān)模式,其特點(diǎn)是半橋的兩顆MOSFET,當(dāng)其中一個(gè)MOSFET有體二極管反向續(xù)流的時(shí)候另外一個(gè)管子導(dǎo)通了(可以參考下圖實(shí)例,Q1有二極管續(xù)流時(shí),Q2導(dǎo)通了,這時(shí)Q1的體二極管就會有反向恢復(fù)),因此就會出現(xiàn)有續(xù)流的這個(gè)MOSFET的體二極管有很大的反向恢復(fù),并且伴隨很高的dv/dt。
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連貫起來看,就是LLC的硬開關(guān)會導(dǎo)致有體二極管方向恢復(fù)這顆管子的內(nèi)部BJT導(dǎo)通,從而熱點(diǎn)損壞,進(jìn)而半橋電路出現(xiàn)直通短路。

考慮到上面介紹的失效機(jī)制,其實(shí)有很多應(yīng)對方法,簡單的有選擇體二極管反向恢復(fù)特性較好的MOSFET,或者在電路上或電路架構(gòu)上進(jìn)行優(yōu)化,甚至有些芯片已經(jīng)集成了硬開關(guān)和容模保護(hù)等功能,這些就不詳細(xì)展開了。

文章來源:微信公眾號   融創(chuàng)芯城(一站式電子元器件、PCB、PCBA購買服務(wù)平臺,項(xiàng)目眾包平臺,方案共享平臺)






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