標(biāo)題: 數(shù)字低頻特性測(cè)試儀設(shè)計(jì)論文下載 [打印本頁(yè)]
作者: Grswater    時(shí)間: 2017-4-20 12:59
標(biāo)題: 數(shù)字低頻特性測(cè)試儀設(shè)計(jì)論文下載
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摘要與關(guān)鍵詞... - 2 -
1     設(shè)計(jì)任務(wù)與要求... - 3 -
1.1      設(shè)計(jì)任務(wù)... - 3 -
1.2      技術(shù)指標(biāo)... - 3 -
2     方案論證與比較... - 3 -
3     掃頻信號(hào)源及外圍硬件電路... - 5 -
3.1      DDS信號(hào)源設(shè)計(jì)... - 5 -
3.2      阻容雙T網(wǎng)絡(luò)相關(guān)參數(shù)的計(jì)算... - 8 -
3.3      峰值檢波電路... - 9 -
3.4      相位差測(cè)量... - 10 -
4     MCU、按鍵顯示、通信模塊... - 11 -
4.1      LPC2132簡(jiǎn)介... - 11 -
4.2      按鍵顯示電路... - 12 -
4.3      SPI通信模塊... - 12 -
5     軟件流程... - 13 -
6     系統(tǒng)調(diào)試與測(cè)量結(jié)果... - 14 -
6.1      測(cè)試儀器... - 14 -
6.2      DDS掃頻信號(hào)源... - 15 -
6.3      幅頻特性測(cè)量... - 15 -
6.4      相頻特性測(cè)量... - 17 -
6.5      總結(jié)... - 19 -
7     參考資料... - 19 -
摘要：
頻率特性測(cè)試儀也稱掃頻儀，用于測(cè)量被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性和相頻特性，是電子領(lǐng)域中常用的設(shè)備之一。本文詳細(xì)敘述了由ARM、FPGA以及外圍電路制作頻率特性儀的所需的軟件和硬件。幅值的測(cè)量由ARM控制FPGA產(chǎn)生DDS信號(hào)掃頻信號(hào)經(jīng)過(guò)測(cè)試網(wǎng)絡(luò)（阻容雙T網(wǎng)絡(luò)）、峰值檢波、ADC將幅值存入Flash；相位差的測(cè)量是將測(cè)試網(wǎng)絡(luò)輸入和輸出兩路信號(hào)分別送比較器整形為方波，測(cè)量?jī)陕贩讲ó惢蚝蟮拿}沖寬度來(lái)實(shí)現(xiàn)。通過(guò)把Flash中存儲(chǔ)的相應(yīng)頻率的幅值和相位讀出可在數(shù)碼管上顯示，或經(jīng)過(guò)DAC可在示波器上顯示幅頻特性和相頻特性。經(jīng)過(guò)實(shí)際制作和調(diào)試，由LPC2132控制Cyclone II產(chǎn)生的掃頻信號(hào)實(shí)際范圍為5～2M Hz、最小步進(jìn)值5Hz；在100～100k Hz范圍內(nèi)幅值和相位精度基本滿足題目要求。


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數(shù)字式低頻特性測(cè)試儀設(shè)計(jì).doc

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作者: PhantomJ    時(shí)間: 2017-4-20 20:34
太贊了



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