掃描模式下ADC通道間的串擾問題

正文摘要:

問題：某客戶工程師講述，在其產(chǎn)品中需要使用STM32 的 ADC 對多路模擬信號進行同步采樣。采用了 ADC 常規(guī)通道的掃描模式來完成這一功能。然而，在調(diào)試過程中發(fā)現(xiàn)一個奇怪的現(xiàn)象：當將各路模擬信號的電平設(shè)置成相同時 ...