iTOP-4412開發(fā)板實(shí)現(xiàn)3路ADC數(shù)模轉(zhuǎn)換驅(qū)動例程

學(xué)習(xí)下 linux 數(shù)模程序驅(qū)動的編寫，本節(jié)我們實(shí)現(xiàn)的功能是實(shí)現(xiàn)三路
ADC 數(shù)模轉(zhuǎn)換。
驅(qū)動程序
驅(qū)動程序的名字：“itop4412_adc.c”。
要想把這個驅(qū)動注冊到內(nèi)核,先把這個驅(qū)動程序放到內(nèi)核的“driver/char”目錄下面，如
下圖所示：

Makefile
然后打開 drive/char 目錄下面的 Makefile，添加：
obj-$(CONFIG_ADC_CTL) += itop4412_adc.o
如下圖所示：

添加完成后保存退出。
Kconfig
打開“drive/char”目錄下面的 Kconfig，搜索“LEDS_CTL”,找到之后在下面添加
“DS18B20_CTL”,仿照著“LEDS_CTL”寫就可以了，添加內(nèi)容如下：
config 3LADC_CTL
bool "Enable 3LADC config"
default y
help
Enable 3LADC config
添加完成后如下圖所示：

修改完成后保存退出。
添加設(shè)備到平臺文件
最后使用命令“vim arch/arm/mach-exynos/mach-itop4412.c”，打開平臺文件。添
加設(shè)備，參考 led 的驅(qū)動，添加內(nèi)容一如下：
#ifdef CONFIG_ADC_CTL
struct platform_device s3c_device_adc_ctl = {
.name = "adc_ctl",
.id = -1,
};
#endif
添加完成后如下圖所示：

添加內(nèi)容二如下：
#ifdef CONFIG_ADC_CTL
&s3c_device_adc_ctl,
#endif
添加完成后如下圖所示：

修改完成后保存退出。
內(nèi)核的編譯
內(nèi)核在編譯之前應(yīng)該先對其進(jìn)行參數(shù)配置。具體講解可以參考 itop-4412 開發(fā)板精英使
用手冊 5.3.2，這里以 SCP 2G 核心板為例編譯 zImage 內(nèi)核鏡像,那么配置文件為
config_for_linux_scp_elite 使用命令 cp cconfig_for_linux_scp_elite .config 配置，

在內(nèi)核目錄下使用 make menuconfig 命令打開內(nèi)核配置界面，進(jìn)入 “Device Drivers
--->”→“Character devices --->”→“ADC driver for iTOP4412”，如下圖所示，配置
上宏 定義“ADC_CTL”。

配置完成后保存退出，以免出錯可以再查看一遍，然后使用編譯命令“make zImage”
編譯內(nèi)核。編譯完成后在目錄
“/home/topeet/android4.0/iTop4412_Kernel_3.0/arch/arm/boot”下找到新生成的
zImage 編譯到開發(fā)板，啟動開發(fā)板。開發(fā)板啟動之后，使用命令“l(fā)s
/sys/devices/platform/”可以查看到新注冊的 adc_ctl 設(shè) 備，如下圖所示。

如下圖所示，加載之后使用命令“l(fā)s /dev”,可以看到新生成了設(shè)備節(jié)點(diǎn) adc。

測試程序
名字：“adctest.c”
在 Ubuntu 系統(tǒng)下新建 ada 文件夾，將寫好的 “adctest.c” 拷貝到文件夾下，使用
“arm-none-linux-gnueabi-gcc -o adctest adctest.c -static”命令編譯應(yīng)用。 如下圖所
示。

將上圖中的文件“adctest” 拷貝到 U 盤。 啟動開發(fā)板，將 U 盤插入開發(fā)板，使用命
令“ mount /dev/sda1 /mnt/udisk/”加載 U 盤符， 有三條命令運(yùn)行小應(yīng)“adctest”，
第一條使用命令“./mnt/udisk/adctest 0 0”，運(yùn)行小應(yīng)用 “adctest”，如下圖所
示：

調(diào)整滑動電阻器之后，再次使用測試程序，如下圖所示，輸出數(shù)值會有變化。

滑動變阻器向順時針旋轉(zhuǎn)，阻值會減小，最小為 0；
滑動變阻器向逆時針旋轉(zhuǎn)，阻值會增大，最大為 10k。
第二條使用命令“./mnt/udisk/adctest 1 0”，運(yùn)行小應(yīng)用 “adctest”，如下圖所
示：

調(diào)整滑動電阻器之后，再次使用測試程序，如下圖所示，輸出數(shù)值會有變化

滑動變阻器向順時針旋轉(zhuǎn)，阻值會減小，最小為 0；
滑動變阻器向逆時針旋轉(zhuǎn)，阻值會增大，最大為 10k。
第三條使用命令“./mnt/udisk/adctest 1 1”，運(yùn)行小應(yīng)用 “adctest”，如下圖所
示：

調(diào)整滑動電阻器之后，再次使用測試程序，如下圖所示，輸出數(shù)值會有變化。

滑動變阻器向順時針旋轉(zhuǎn)，阻值會減小，最小為 0；
滑動變阻器向逆時針旋轉(zhuǎn)，阻值會增大，最大為 10k。