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摘要本篇應(yīng)用筆記主要介紹華大半導(dǎo)體 MCU* 在低功耗模式下調(diào)試程序的方法。 本篇應(yīng)用筆記主要包括：
◇ 工作模式介紹
◇ 低功耗模式下調(diào)試程序的方法
注意：－ 本應(yīng)用筆記為華大半導(dǎo)體 MCU* 的應(yīng)用補(bǔ)充材料，不能代替用戶手冊(cè)，具體功能及寄存器的操作等相關(guān)事項(xiàng)請(qǐng)以用戶手冊(cè)為準(zhǔn)。
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工作模式介紹
本系列 MCU 的具有三種工作模式：
1) 運(yùn)行模式（ActiveMode）：CPU 運(yùn)行，片內(nèi)外設(shè)正常運(yùn)行，SWD 接口正常運(yùn)行。
2) 休眠模式（SleepMode）：CPU 停止，片內(nèi)外設(shè)正常運(yùn)行，SWD 接口正常運(yùn)行。
3) 深度休眠模式（DeepSleepMode）：CPU 停止，大部分片內(nèi)外設(shè)停止運(yùn)行，SWD 接口停止運(yùn)行。
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低功耗模式下調(diào)試程序的方法
由于深度休眠模式下，SWD 接口停止工作，所以只能借用休眠模式調(diào)試工作于深度休眠模式下的代碼。
3.1
休眠模式下調(diào)試程序的方法
1. 在__WFI()函數(shù)所在行設(shè)置斷點(diǎn)。
2. 在__WFI()函數(shù)的下一行設(shè)置斷點(diǎn)。
3. 當(dāng)程序運(yùn)行到__WFI()函數(shù)所在行時(shí)，在 IDE 中選擇【全速執(zhí)行】。
4. 當(dāng)發(fā)生中斷后，中斷信號(hào)喚醒 MCU，程序自動(dòng)執(zhí)行到__WFI()函數(shù)的下一行。
注意：－ 需要 SWD 接口使能（SYSCTRL1.SWD_USE_IO=0)。－ 執(zhí)行__WFI()函數(shù)時(shí)，必須是全速執(zhí)行；不可以單步執(zhí)行。
3.2
深度休眠模式下調(diào)試程序的方法
1. __WFI()函數(shù)的前一行寫(xiě)入 SCB_SCR = 0x00。
2. 按 3.1 休眠模式下調(diào)試程序的方法對(duì)程序的功能進(jìn)行調(diào)試。
3. 功能調(diào)試完成后，將__WFI()函數(shù)的前一行程序修改為 SCB_SCR = 0x01<<2 。
注意：－ 需要 SWD 接口使能（SYSCTRL1.SWD_USE_IO=0)。－ 執(zhí)行__WFI()函數(shù)時(shí)，必須是全速執(zhí)行；不可以單步執(zhí)行。
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總結(jié)以上章節(jié)簡(jiǎn)要介紹了低功耗模式下調(diào)試程序的方法，用戶在實(shí)際應(yīng)用開(kāi)發(fā)中可根據(jù)實(shí)際情況參考本例對(duì)程序進(jìn)行調(diào)試。
• 如有技術(shù)與價(jià)格疑問(wèn)，可以隨時(shí)撥打電話或QQ咨詢
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