PCB板過孔不良切片圖片芯片Xray SAT掃描圖片

ID:811259 · 發(fā)表于 2020-8-13 10:27

瀏覽了一些帖子沒怎么看到對(duì)芯片或者PCB的內(nèi)部分享圖片分享一下因?yàn)镻CB內(nèi)部過孔不良的失效圖片。一般失效用到的有
超聲波掃描檢測(cè)：無損觀察芯片內(nèi)部是否存在分層，空洞
Xray檢測(cè)：無損觀察芯片內(nèi)部打線芯片Die位置大小等
開封Decap：化學(xué)腐蝕等手段去除芯片表面塑封，觀察芯片內(nèi)部狀況并與OK品進(jìn)行比較
切片Crosssection：物理研磨手段，觀察芯片內(nèi)部截面，一般先進(jìn)行1.取樣 2.清洗 3.制樣 4.研磨 5.拋光

對(duì)于像過孔電容電阻失效等不良，需要細(xì)心，因?yàn)槭悠酚邢�，只有�?zhǔn)確根據(jù)不良現(xiàn)象才能找到失效的根本原因，進(jìn)而降低產(chǎn)品不良風(fēng)險(xiǎn)。

ID:495086 · 發(fā)表于 2020-12-11 10:16

這個(gè)帖子不錯(cuò)，學(xué)習(xí)了。。。

ID:712493 · 發(fā)表于 2020-12-20 10:52

有一芯片 VDD擊穿能分析？

帳號(hào)		自動(dòng)登錄	找回密碼
密碼			立即注冊(cè)

PCB板過孔不良切片圖片 芯片Xray SAT掃描圖片

評(píng)分

PCB板過孔不良切片圖片芯片Xray SAT掃描圖片