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做一個(gè)邏輯芯片測(cè)試儀,讀寫(xiě)外部存儲(chǔ)器的方案?

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樓主
ID:72649 發(fā)表于 2023-5-26 21:23 來(lái)自觸屏版 | 只看該作者 回帖獎(jiǎng)勵(lì) |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
做一個(gè)邏輯芯片測(cè)試儀,想把正確的數(shù)據(jù)寫(xiě)到外部存儲(chǔ)芯片,單片機(jī)進(jìn)行讀寫(xiě)比較判斷邏輯功能好壞,望大師給個(gè)參考方案。
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ID:404160 發(fā)表于 2023-5-28 16:36 | 只看該作者
正確的邏輯芯片IO值,做成表格存外部EEPROM中,測(cè)試時(shí),通過(guò)查表判斷邏輯芯片能否正常工作
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ID:72649 發(fā)表于 2023-5-29 11:15 來(lái)自觸屏版 | 只看該作者
飛云居士 發(fā)表于 2023-5-28 16:36
正確的邏輯芯片IO值,做成表格存外部EEPROM中,測(cè)試時(shí),通過(guò)查表判斷邏輯芯片能否正常工作

能不能具體點(diǎn)
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