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低成本的IO電壓檢測(cè)方案

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樓主
ID:60076 發(fā)表于 2014-5-6 15:15 | 只看該作者 回帖獎(jiǎng)勵(lì) |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
先聲明一下:本檢測(cè)方法精度很低,只能用于要求不高的場(chǎng)合。

電路只要一個(gè)電阻和一個(gè)電容,和占用一個(gè)IO口,電路如下:

方法:
1、先將IO口設(shè)為輸出并置成低電平,對(duì)電容C放電;
2、再將IO口設(shè)為輸入,同時(shí)啟動(dòng)MCU內(nèi)部的計(jì)數(shù)器;
3、電池電壓Vbat將通過(guò)電阻R對(duì)C充電,同時(shí)MCU檢測(cè)IO口的狀態(tài);
4、當(dāng)檢測(cè)到IO口為高時(shí),停止計(jì)數(shù);
5、將IO口重新設(shè)為輸出0;
6、此時(shí)計(jì)數(shù)值與Vbat的值相對(duì)應(yīng)。

Vbat的計(jì)算方法:可以通過(guò)查表加插值方法計(jì)算出電壓值,表的制作方法是:用一組已知的電壓測(cè)出對(duì)應(yīng)的計(jì)數(shù)值,寫入到程序里。

如果要提高檢測(cè)的精度,可以單獨(dú)對(duì)每個(gè)產(chǎn)品獨(dú)立調(diào)校,將得到的表格數(shù)據(jù)寫入到EEPROM內(nèi)。

本方案可以用于無(wú)AD的MCU,又需要電池電壓檢測(cè)的低成本的應(yīng)用中。
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ID:48413 發(fā)表于 2014-7-15 21:57 | 只看該作者
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ID:108575 發(fā)表于 2018-6-15 10:07 | 只看該作者
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地板
ID:448822 發(fā)表于 2019-2-9 16:53 | 只看該作者
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