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地彈的形成、危害及規(guī)避措施

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ID:72008 發(fā)表于 2015-1-13 00:45 | 顯示全部樓層 |閱讀模式
地彈的形成:
芯片內(nèi)部的地和芯片外的PCB地平面之間不可避免的會有一個小電感。這個小電感正是地彈產(chǎn)生的根源,同時,地彈又是與芯片的負載情況密切相關(guān)的。下面結(jié)合圖介紹一下地彈現(xiàn)象的形成。

簡單的構(gòu)造如上圖的一個小“場景”,芯片A為輸出芯片,芯片B為接收芯片,輸出端和輸入端很近。輸出芯片內(nèi)部的CMOS等輸入單元簡單的等效為一個單刀雙擲開關(guān),RH和RL分別為高電平輸出阻抗和低電平輸出阻抗,均設(shè)為20歐。GNDA為芯片A內(nèi)部的地。GNDPCB為芯片外PCB地平面。由于芯片內(nèi)部的地要通過芯片內(nèi)的引線和管腳才能接到GNDPCB,所以就會引入一個小電感LG,假設(shè)這個值為1nH。CR為接收端管腳電容,這個值取6pF。這個信號的頻率取200MHz。雖然這個LG和CR都是很小的值,不過,通過后面的計算我們可以看到它們對信號的影響。
先假設(shè)A芯片只有一個輸出腳,現(xiàn)在Q輸出高電平,接收端的CR上積累電荷。當(dāng)Q輸出變?yōu)榈碗娖降臅r候。CR、RL、LG形成一個放電回路。自諧振周期約為490ps,頻率為2GHz,Q值約為0.0065。
使用EWB建一個仿真電路。(很老的一個軟件,很多人已經(jīng)不懈于使用了。不過我個人比較依賴它,關(guān)鍵是建模,模型參數(shù)建立正確的話仿真結(jié)果還是很可靠的,這個小軟件幫我發(fā)現(xiàn)和解決過很多實際模擬電路中遇到的問題。這個軟件比較小,有比較長的歷史,也比較成熟,很容易上手。建議電子初入門的同學(xué)還是熟悉一下。)因為只關(guān)注下降沿,所以簡單的構(gòu)建下面一個電路。起初輸出高電平,10納秒后輸出低電平。為方便起見,高電平輸出設(shè)為3.3V,低電平是0V。(實際200M以上芯片IO電壓會比較低,多采用1.5-2.5V。)


電感兩端波形如下所示。電壓為2V/格,可以看到下沖可以到-600mV。


于是輸出低電平信號如下圖所示:

我們看到實際上由于RL的作用,接收端下沖只到71mV。
這個RL的作用很大。如果這個值是2歐的話,Q值增大10倍。(這是假設(shè),只為更形象的說明其作用,實際不會做到這么小的。)可以看到下沖可以到-2.6V。


而芯片B接收端信號也惡化很多。信號下沖已經(jīng)到了-2.5V。


前面我們只分析了一個輸出變化引起內(nèi)部地彈的情況。當(dāng)出現(xiàn)一組數(shù)據(jù)線同時由高電平翻轉(zhuǎn)為低電平時(假設(shè)為10根),則等效模型為RL為2歐,CR為60pF。電感兩端波形如下圖所示:(芯片內(nèi)部地最低到-1.69V,信號端下沖也達到-1.48V)


芯片加工過程中會采用各用工藝盡可能的縮小LG的值,并且通過增加地引線的方式減小LG的值(等效為并聯(lián))。比如一片1000腳左右的BGA封裝芯片。有一組輸出總線寬度為72bit,而芯片引出地引腳為200根。那么這個電路可以等效為下面的形式:


芯片內(nèi)部地的波形如下圖所示:(下沖只有320mV)


可以看到,一方面通過增加地引線數(shù)目,地彈現(xiàn)象得到了很大的改善;另一方面,72根數(shù)據(jù)線同時翻轉(zhuǎn)的幾率也很低,所以地彈得到了很有效的控制。然而,不是所有的芯片都能提供足夠多的地,除了BGA封裝,其它封裝地引線還是比較少的。如果一個芯片有18個輸出,只有4個地引腳。那么RL變?yōu)?.25歐,CR為96p*,**為0.25nH,芯片地上的地彈情況就會比起初假設(shè)的情況更糟了?梢钥吹较聸_已經(jīng)到了-1.23V。


地彈的影響:
看到了上面地彈分析和相關(guān)波形,我們第一感覺總會認為地彈最大的危害是給輸出信號增加了下沖。其實不然,地彈最大的危害其實在于對輸入的影響――會形成二次觸發(fā)。下面結(jié)合圖分析一下二次觸發(fā)是怎么形成的。
再構(gòu)造一個簡單模型。在前面的模型基礎(chǔ)上給芯片A加入了一個輸入端――構(gòu)造一個觸發(fā)時鐘的上升沿。模擬場景為:在9.8ns的時候這個上升沿產(chǎn)生,上升時間大概為660ps。在10ns的時候時鐘信號達到高電平并觸發(fā)了所有輸出由高電平翻轉(zhuǎn)為低電平。

真實情況下,時鐘輸入端的6pF電容(管腳電容)下邊應(yīng)該接到芯片地的,但那樣波形會比較復(fù)雜(不是一個單調(diào)的上升沿),為獲得一個單調(diào)的上升沿,以更直觀的說明問題,暫把電容模型直接并在時鐘輸入與PCB的地之間。
可以看到下面的波形情況:


而對芯片來說,接收端的信號是相對內(nèi)部地的。也就是說對于芯片A來說,它認為輸入時鐘是信號與內(nèi)部地的差。即芯片理解的波形是下面的樣子:


可以看到芯片內(nèi)會認為時鐘上有一個回溝,從而造成觸發(fā)器的二次觸發(fā)。如果是一個計數(shù)器時鐘輸入的話一個上升沿就會被計為兩個上升沿;如果是鎖存器的話,就會重新鎖存一下數(shù)據(jù),這里需要注意,這個回溝會疊加到每一個輸入信號端。也就是說二次觸發(fā)時鎖存到的數(shù)據(jù)可能是錯誤的數(shù)據(jù)!
這里仿真的回溝幅度比較大,主要是一次觸發(fā)后的那個下降沿(對應(yīng)電感兩端的上升沿)。如果情況真的如我們上面看到的波形一樣,那芯片怎么還能正常工作呢??下面來解釋一下:
其實,上面為了更好的理解對輸入的影響,對大家做了一個誤導(dǎo)。(今天愚人節(jié),說謊有理^_^)關(guān)鍵就在那個輸入端的6pF電容!把這個小電容按實際情況接到芯片內(nèi)部地上的話,情況就大不一樣了。

下面看一下相對PCB地平面輸入時鐘波形和芯片內(nèi)部地的電平變化:(高的一條線為輸入時鐘信號,低的一條為芯片內(nèi)部地。在9.8ns和10ns分別有一次正向跳變。)

這時,內(nèi)部認為輸入信號電平低然是兩者之差:

怎么會這樣?回溝完全沒有了。恐皇窃10ns后出現(xiàn)了一個小臺階…下面我們分析一下原因^_^
小臺階的出現(xiàn)是因為芯片B的輸入端積累的正電荷反灌了回來,而又不能馬上通過電感(電感的電流不能瞬間變化),于是在電感兩端產(chǎn)生了一個與輸出電壓相等的電勢。而在9.8ns的時候由于時鐘信號的高電平,已經(jīng)有電流通過輸入端小電容,然后又通過電感了。于是電感中已經(jīng)允許有電流通過,在10ns的時候電流再回灌的話就可以通過電感了,(這個時候前邊時鐘輸入端的小電容基本不過電容了,所以看到前一個波形里時鐘會有兩個跳變)于是回溝就看不到了(但并不是沒有了,圖上看不到回溝主要是因為10ns的時候時鐘信號在中心電平附近,還和很多條件相關(guān),比如:把輸入時鐘端的電容設(shè)為4pF的話,就又有了一個小回溝,就不細說了,要不今天就甭吃晚飯了^_^)。
下面再做一點很小的修改(在時鐘信號線或芯片管腳與PCB的地之間有一個小電容1.5pF):

呵呵,是不是有想吐的感覺?它又出來了…


地彈的測量:
地彈要測量芯片內(nèi)部的地電平變化,總不能割開芯片去測吧?確實是沒有辦法直接測到,不過,對CPLD或FPGA可以大致的測量內(nèi)部地彈情況的?梢园涯骋粋管腳設(shè)為低電平輸出。大多芯片內(nèi)部地與輸出低電平之間的壓差是基本不變的。測量這個低電平輸出的電壓波形就能反應(yīng)出內(nèi)部地彈情況了。示波器帶寬要夠!對測試技巧要求也比較高^_^
地彈的規(guī)避:
通過上面的分析,我們了解了地彈的機理,可以采取一些措施來規(guī)避(暫時只能想到這些了):
1、    設(shè)計CPLD或FPGA等邏輯器件的時候盡可能不要同時對大量的輸出進行翻轉(zhuǎn)。
2、    輸出不要帶太多負載。
3、    加始端串阻匹配。相當(dāng)于增大了開始建的模型里的RL。
4、    終端并聯(lián)匹配也能起到很好的效果。(電流可以不單走電感了)
5、    對芯片前邊的輸入也不容忽視,可以看到例中1.5pF小電容的作用^_^(一個小過孔焊盤與地之間的電容也近0.3p*呢。)
芯片制造商也可以:
1、    引比較多的地線,減小**。
2、    改進制造工藝,減小LG。(幾乎是到頭了…)
3、    芯片內(nèi)部將輸入和輸出地分開,這樣輸出引起的地彈就不會影響到輸入端了。也就避免了二次觸發(fā)。
4、    采用差分結(jié)構(gòu)。差分結(jié)構(gòu)里也有電感,但是對差分結(jié)構(gòu)進行分析的話,不難發(fā)現(xiàn)電感中的電流在0和1的邏輯狀態(tài)是方向和大小都不變的。不會有電平翻轉(zhuǎn)后電荷不能通過電感的現(xiàn)象。
和地彈機理相同,還有電源彈射呢^_^機理相同,就不再重復(fù)了。                                                                                             
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ID:621006 發(fā)表于 2019-11-13 13:59 | 顯示全部樓層
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