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關(guān)于DW01A過(guò)充恢復(fù)在一些鋰電池保護(hù)板測(cè)試儀上測(cè)試不過(guò)的說(shuō)明

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ID:105323 發(fā)表于 2016-2-12 02:21 | 只看該作者 回帖獎(jiǎng)勵(lì) |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
保護(hù)IC-DW01A替代其它品牌DW01在鋰電保護(hù)板上,使用泰斯等儀器公司的某些版本型號(hào)鋰電保護(hù)板測(cè)試儀,在精確模式下測(cè)試過(guò)充保護(hù)恢復(fù)或過(guò)放保護(hù)恢復(fù)功能有不能通過(guò)的現(xiàn)象。
  分析為:當(dāng)過(guò)充保護(hù)后,泰斯測(cè)試儀會(huì)直接跳到4.2V電壓,開(kāi)始以10mV/1ms往下降,在電壓往下降的同時(shí),測(cè)試儀會(huì)不斷的進(jìn)行充電與放電的交替;但是我司的保護(hù)IC,當(dāng)過(guò)充保護(hù)后,且有放電路徑,則過(guò)充恢復(fù)電壓會(huì)與過(guò)充檢測(cè)電壓相同,所以保護(hù)板測(cè)試儀會(huì)馬上判斷為過(guò)充恢復(fù)電壓;正常的保護(hù)IC,在過(guò)充保護(hù)后,如果有放電路徑,則VCL=VCU=4.3V。意思就是說(shuō),因?yàn)殇囯姳Wo(hù)板測(cè)試儀設(shè)計(jì)時(shí)的檢測(cè)方式不同,在過(guò)充恢復(fù)電壓檢測(cè)時(shí),會(huì)產(chǎn)生誤判斷,誤判斷的原因,來(lái)自于測(cè)試儀在做過(guò)充恢復(fù)檢測(cè)時(shí),采用了充電/放電的交替方式,導(dǎo)致誤判斷。**DW01A的過(guò)充恢復(fù)和過(guò)放恢復(fù)電壓實(shí)際上都是正常且符合規(guī)范的,如泰格達(dá)鋰電保護(hù)板測(cè)試儀就可以正常測(cè)試。
目前所有鋰電保護(hù)板測(cè)試儀廠商設(shè)計(jì)的軟件程序都不能完全兼容不同廠家保護(hù)IC的過(guò)充恢復(fù)和過(guò)放保護(hù)恢復(fù)功能,只要保護(hù)IC實(shí)際有此功能,快速測(cè)試沒(méi)問(wèn)題就可以。**的DW01A早已大量用于鋰電池保護(hù)上,迄今為止尚未收到過(guò)有關(guān)于過(guò)充恢復(fù)問(wèn)題的客戶(hù)投訴,請(qǐng)客戶(hù)放心使用我司產(chǎn)品。
泰斯公司有專(zhuān)門(mén)針對(duì)對(duì)此現(xiàn)象的解釋說(shuō)明,附件為泰斯公司關(guān)于測(cè)試過(guò)充恢復(fù)及過(guò)放保護(hù)恢復(fù)異常的原因說(shuō)明,精確測(cè)試模式下可以直接忽略屏蔽不測(cè)該項(xiàng)目即可,以及操作使用說(shuō)明書(shū)上第12頁(yè)亦有注明可免測(cè)該項(xiàng)目(詳見(jiàn)截圖)。


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