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壓敏電阻五種防過熱保護技術(shù)

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ID:231078 發(fā)表于 2017-10-23 16:02 | 只看該作者 |只看大圖 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
過熱保護技術(shù)應(yīng)用于目前Intel處理器中的一項過熱保護技術(shù)可能存在嚴重安全漏洞,當(dāng)基于Intel處理器的PC在處理器過熱或者出現(xiàn)某些類似情況時,很容易受到黑客的攻擊。還有一種就是電路上的過熱保護。在使用壓敏電阻中可能會無法控?zé)岫龋敲从龅竭@些情況我們該怎么處理呢。


1.熱熔保險絲技術(shù)。該技術(shù)是將用蠟保護的低熔點金屬通過一定的工藝裝在壓敏電阻上,在壓敏電阻漏電流過大,溫度升高到一定程度時,低熔點金屬熔斷,從而將壓敏電阻從電路中切除,可以有效地防止壓敏電阻起火燃燒。但熱熔保險絲存在可靠性問題,而且在加強熱循環(huán)的環(huán)境里約只有5年可靠壽命。在熱循環(huán)的環(huán)境中,熱熔保險絲需定期更換以維持正常運行。

2.利用彈簧拉住低熔點焊錫技術(shù)。這種技術(shù)是目前絕大多數(shù)防雷器廠家的限壓型SPD采 用的技術(shù),在壓敏電阻的引腳處增加一個低熔點焊錫焊接點,然后用一根彈簧將這個焊接點拉住,在壓敏電阻漏電流過大,溫度升高到一定程度時,焊接點的焊錫熔斷,在彈簧的拉力作用下焊接點迅速分離,從而將壓敏電阻從電路中切除,同時聯(lián)動告警觸點,發(fā)出告警信號。因為低熔點金屬在受力點會流動和產(chǎn)生裂縫,處于彈 簧拉力中的低熔點焊錫接點的焊錫同樣會流動和產(chǎn)生裂縫,因此這種裝置的最大問題是焊錫會老化,從而導(dǎo)致裝置會無故斷開。

3.溫度保險絲技術(shù)。該技術(shù)將壓敏電阻和溫度保險絲串 聯(lián)封裝在一起,利用熱傳導(dǎo)將漏電流在壓敏電阻上產(chǎn)生的熱量傳導(dǎo)溫度保險絲上,在溫度升高至溫度保險絲的設(shè)定溫度時,溫度保險絲熔斷,將壓敏電阻從電路中切 除。溫度保險絲除了有同樣有壽命和可靠性的問題外,利用溫度保險絲對壓敏電阻進行過熱保護還存在以下問題:熱傳導(dǎo)路徑長,響應(yīng)速度過慢,熱量是通過一定的 熱傳導(dǎo)介質(zhì)(填充材料)溫度保險絲殼體,溫度保險絲的內(nèi)部填充材料,然后才傳到溫度保險的熔體上,因此決定了溫度保險絲的響應(yīng)速度教慢。

4.隔離技術(shù)。該技術(shù)將壓敏電阻裝在一個密閉的盒體內(nèi),與其它電路相隔離,防止壓敏電阻煙霧和火焰的蔓延。在各種后備保護都失靈的情況下,隔離技術(shù)也不失為一種簡單而行之有效的方法,但需要占用教大的設(shè)備空間,同時也要防止煙霧和火焰從盒體引線開孔的地方冒出來。

5.灌封技術(shù)。為防止壓敏電阻在失效時會冒煙、起火和爆炸,一些廠商采用該技術(shù)將壓敏電阻灌封起來,但由于壓敏電阻在失效時內(nèi)部會出現(xiàn)拉弧,導(dǎo)致密封材料失效,并產(chǎn)生碳,碳的產(chǎn)生又會使電弧得以維持,這樣往往會導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部短路及熏黑,甚至導(dǎo)致整個設(shè)備機房嚴重熏黑。實驗表明:壓敏電阻套熱縮套管后,由于壓敏電阻的散熱受到影響,其最大耗散功率降低,從而影響了壓敏電阻的工頻電壓耐受能力,從另一個角度來說,散熱受到影響也會加速壓敏電阻的老化,影響壓敏 電阻的使用壽命。


本文編輯來自東莞市智旭電子有限公司研發(fā)部提供。


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