詳情見(jiàn)附件：
摘要與關(guān)鍵詞... - 2 - 1 設(shè)計(jì)任務(wù)與要求... - 3 - 1.1 設(shè)計(jì)任務(wù)... - 3 - 1.2 技術(shù)指標(biāo)... - 3 - 2 方案論證與比較... - 3 - 3 掃頻信號(hào)源及外圍硬件電路... - 5 - 3.1 DDS信號(hào)源設(shè)計(jì)... - 5 - 3.2 阻容雙T網(wǎng)絡(luò)相關(guān)參數(shù)的計(jì)算... - 8 - 3.3 峰值檢波電路... - 9 - 3.4 相位差測(cè)量... - 10 - 4 MCU、按鍵顯示、通信模塊... - 11 - 4.1 LPC2132簡(jiǎn)介... - 11 - 4.2 按鍵顯示電路... - 12 - 4.3 SPI通信模塊... - 12 - 5 軟件流程... - 13 - 6 系統(tǒng)調(diào)試與測(cè)量結(jié)果... - 14 - 6.1 測(cè)試儀器... - 14 - 6.2 DDS掃頻信號(hào)源... - 15 - 6.3 幅頻特性測(cè)量... - 15 - 6.4 相頻特性測(cè)量... - 17 - 6.5 總結(jié)... - 19 - 7 參考資料... - 19 - 摘要： 頻率特性測(cè)試儀也稱掃頻儀，用于測(cè)量被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性和相頻特性，是電子領(lǐng)域中常用的設(shè)備之一。本文詳細(xì)敘述了由ARM、FPGA以及外圍電路制作頻率特性儀的所需的軟件和硬件。幅值的測(cè)量由ARM控制FPGA產(chǎn)生DDS信號(hào)掃頻信號(hào)經(jīng)過(guò)測(cè)試網(wǎng)絡(luò)（阻容雙T網(wǎng)絡(luò)）、峰值檢波、ADC將幅值存入Flash；相位差的測(cè)量是將測(cè)試網(wǎng)絡(luò)輸入和輸出兩路信號(hào)分別送比較器整形為方波，測(cè)量?jī)陕贩讲ó惢蚝蟮拿}沖寬度來(lái)實(shí)現(xiàn)。通過(guò)把Flash中存儲(chǔ)的相應(yīng)頻率的幅值和相位讀出可在數(shù)碼管上顯示，或經(jīng)過(guò)DAC可在示波器上顯示幅頻特性和相頻特性。經(jīng)過(guò)實(shí)際制作和調(diào)試，由LPC2132控制Cyclone II產(chǎn)生的掃頻信號(hào)實(shí)際范圍為5～2M Hz、最小步進(jìn)值5Hz；在100～100k Hz范圍內(nèi)幅值和相位精度基本滿足題目要求。
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